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缺陷對二維四方光子晶體透射光譜的影響
利用轉(zhuǎn)移矩陣法研究了二維四方光子晶體中缺陷對透射光譜的影響.結果表明缺陷對TE波的影響比對TM波的影響明顯,缺陷層填充比對禁帶寬度影響很大,TE波禁帶在填充比r/a=0.33時最寬,第一禁帶的最低頻率隨著填充比的增加向低頻移動.
作 者： 作者單位： 刊 名： 光譜實驗室 PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPECTROSCOPY LABORATORY 年，卷(期)： 2009 26(6) 分類號： O436.2 關鍵詞： 透射率光譜 光子晶體 光子禁帶 Transmitted Spectrum Photonie Crystal Photonic Band Gap【缺陷對二維四方光子晶體透射光譜的影響】相關文章：
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