XAFS在凝聚態(tài)物質研究中的應用

詳細介紹了X射線吸收精細結構譜學(XAFS)的理論、數(shù)據(jù)分析及實驗等基本原理,以及XAFS在薄膜、納米結構和體相材料(包括半導體、合金以及復雜氧化物)等凝聚態(tài)物質研究中的應用;同時,還介紹了原位XAFS、微區(qū)XAFS和時間分辨XAFS等新的實驗方法,并對該方法的應用前景進行了展望.

作 者： 韋世強 孫治湖 潘志云 閆文盛 鐘文杰 賀博 謝治 韋正 WEI Shi-qiang SUN Zhi-hu PAN Zhi-yun YAN Wen-sheng ZHONG Wen-jie HE Bo XIE Zhi WEI Zheng   作者單位： 中國科學技術大學國家同步輻射實驗室,安徽合肥,230029  刊 名： 中國科學技術大學學報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA  年，卷(期)： 2007 37(4)  分類號： O722  關鍵詞： 同步輻射   XAFS   原子和電子結構   納米結構   凝聚態(tài)物質  

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