運算放大器SET效應的試驗研究

模擬器件的單粒子瞬態(tài)脈沖效應的研究,成為近來國際上單粒子效應研究的熱點.針對中國生產的運算放大器SF3503,利用脈沖激光單粒子效應測試裝置,試驗研究了SF3503工作于反相放大器與電壓比較器模式SET效應的特征與規(guī)律.獲取了器件的敏感節(jié)點分布、LET閾值和SET脈沖波形的特征參數,其中器件的敏感節(jié)點均分布在輸入級與放大級,LET閾值不大于1.2 MeV·cm~2·mg~(-1),電壓比較器產生的最大SET脈沖的幅度達27V、脈沖寬度為51 μs.試驗表明SF3503對SET效應極其敏感,在不采取任何措施的情況下,在空間任務中直接使用,會嚴重影響系統(tǒng)的可靠性.

作 者： 封國強 胡永貴 王健安 黃建國 馬英起 韓建偉 張振龍 FENG Guoqiang HU Yonggui WANG Jianan HUANG Jianguo MA Yingqi HAN Jianwei ZHANG Zhenlong   作者單位： 封國強,黃建國,馬英起,韓建偉,張振龍,FENG Guoqiang,HUANG Jianguo,MA Yingqi,HAN Jianwei,ZHANG Zhenlong(中國科學院空間科學與應用研究中心,北京,100190)

胡永貴,王健安,HU Yonggui,WANG Jianan(中國電子科技集團公司第二十四研究所,模擬集成電路國家級重點實驗室) 

刊 名： 空間科學學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE  年，卷(期)： 2010 30(2)  分類號： V524 P353  關鍵詞： 運算放大器   單粒子瞬態(tài)脈沖   脈沖激光   敏感節(jié)點   Operational amplifier   Single Event Transient (SET)   Pulsed laser   Sensitive nodes  

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