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S781白漆在空間輻照環(huán)境下物性變化分析
文章研究S781白漆分別在紫外、質子和紫外+質子+電子綜合輻照環(huán)境下太陽吸收率(αs)的退化情況,并利用X射線光電子能譜(XPS)和掃描電子顯微鏡(SEM)對樣品表面的成分和形貌進行了分析.結果表明:S781白漆的αs受紫外輻照影響較小,但是在質子和綜合輻照條件下退化明顯.紫外輻照會對S781的硅樹脂粘合劑產生裂解作用,質子輻照下樣品表面會有污染形成,電子輻照會對深層的硅樹脂性質產生影響.
作 者: 劉宇明 馮偉泉 丁義剛 鄭慧奇 趙雪 Liu Yuming Feng Weiquan Ding Yigang Zheng Huiqi Zhao Xue 作者單位: 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所,北京,100094 刊 名: 航天器環(huán)境工程 ISTIC 英文刊名: SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING 年,卷(期): 2007 24(4) 分類號: V416.5 V254.2 關鍵詞: S781白漆 太陽吸收率 紫外輻照 質子輻照 綜合輻照【S781白漆在空間輻照環(huán)境下物性變化分析】相關文章:
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